ATPG自动测试模式生成与验证：DFT测试向量生成之道一、ATPG概述1.1 什么是ATPGATPG（Automatic Test Pattern Generation，自动测试模式生成）是一种自动化生成测试向量的技术。它通过分析芯片的电路结构和故障模型，自动生成能够检测特定故障的测试向量序列。ATPG技术是DFT流程中的关键环节，它解决了以下问题：手动生成测试向量效率低：随着芯片复杂度增加，手动生成测试向量变得不可行测试覆盖率难以保证：手动生成难以达到高测试覆盖率测试向量数量庞大：需要自动化工具来管理和生成大量测试向量1.2 ATPG的发展历程阶段时间特点早期ATPG1960s手动测试向量生成算法起步1970sD算法、PODEM算法出现工业化应用198